随着对（汽车）行业中光学显微镜范围之外的较小颗粒分析的需求不断增长 ，Phenom ParticleX TC（技术清洁）Desktop SEM 可兼具自动扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱 (EDS) 两种优势。相比光学显微镜而言，这是一个主要优势，因为它可以对颗粒进行化学分类，为您的生产工艺和/或环境提供卓越的见解。提供符合 VDA 19 / ISO 16232 或 ISO 4406/4407 标准的报告。
Phenom ParticleX TC（技术清洁度）Desktop SEM 可选配二级电子检测器 (SED)。SED 从样品的顶部表层收集低能量电子。因此，是揭示详细样品表面信息的理想选择。SED 很适合拓扑和形态很关键的应用。在研究微结构、纤维或颗粒时，这通常是如此。
Phenom desktop SEM 产品的用户界面采用久经考验的易用性技术。该界面使现有用户和新用户能够以最少的培训迅速熟悉系统。
用户只需点击即可使用 Phenom ParticleX TC（技术清洁度）Desktop SEM 的元素绘图和线扫描功能。线扫描功能以线图显示量化的元素分布。
矿物纤维的自动检测与表征。
大矿物纤维的自动检测与表征。
元素映射的截图。
智能手机的扫描电镜图像。
用Phenom ParticleX拍摄的SED图像。
电缆的扫描电镜图像。
纺织品的扫描电镜图像。
现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM 和 TEM 工具结合专用的自动化软件、为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。
质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM 和光谱工具、使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。
越来越小的规模研究新型材料、以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。
比以往任何时候都更需要可靠、高质量的组件。使用扫描电子显微镜时、可以实现备件清洁分析、提供多种分析数据、缩短生产周期。
EDS 为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是、我们独特的 Super-X 和 Dual-X 检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项，使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。
元素分析是；能量色散X射线光谱学(EDS，也称为EDX或XEDS）。通过EDS，重要的成分信息被添加到电子显微镜图像中，为您提供样品的综合形态和化学概况。随着EDS分析越来越多地与常规电子显微镜相结合，提高该技术的速度和灵敏度至关重要。Thermo Fisher Scientific提供独特的Thermo Scientific ChemiSTEM技术，专为S/TEM仪器设计，以优化样品产生的X射线数量和探测器捕获的数量。ChemiSTEM技术可以进行快速的EDS绘图和微量元素检测，扩大了S/TEM工具的EDS分析的实用性和性能。此外；热科学彩色扫描电镜技术；在SEM仪器上作为一种常开功能提供，允许任何用户获取基本数据，提供比以往更多的完整信息访问。
现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D 电镜和能量色散 X 射线光谱可以 3D 表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。
执行成分分析并在3D中可视化生成的化学图的能力对于获得真实的；物质的元素分布或组成，最终对样品的结构-功能关系提供新的见解
现代材料研究越来越依赖于纳米尺度的三维分析。完整的3D特征包括化学和成像数据，使3D；能量色散X射线光谱学(EDS，也缩写为EDX或XEDS）；不可或缺的技术。为了获得最高质量的结果，需要具有动态高分辨率成像能力的仪器，以及快速和定量的数据采集。采集方案（TEM、STEM和EDS）的灵活性、轻松且可重复地优化实验的能力以及元素分布数据的快速且高度敏感的收集是捕获纳米材料真实三维结构和组成的先决条件。
电子断层扫描通过逐渐调整观察样品的角度来产生材料的三维重建。这将生成一系列倾斜图像，这些图像可以数字反向投影以渲染原始采样体积。EDS光谱可以与电子显微镜（EM）图像一起获得，提供了详细的元素背景。下面只是EDS断层扫描用例的几个例子，涵盖了各种尺度、分辨率和应用。
赛默飞世尔科学仪器提供一系列自动化功能，允许您预先确定绘图条件、漂移补偿和探测器参数，以及自动对焦和自动倾斜条件。这种自动化水平使您能够设置EDS层析成像实验，然后让系统无人值守，完成数据采集过程。可视化和重建用；Thermo Scientific Inspect 3D公司；以及；Avizo软件。
原子分辨率 EDS 通过区分单个原子的元素特性，为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率 TEM 结合时、可以观察样品中原子的精确组织。
通过将原子级别的电子探针与高电流和 高灵敏度的 X 射线检测器相结合，现在能利用电子显微镜实现常规原子分辨率光谱。能量色散 X 射线光谱（EDS，也缩写为 EDX 或 XEDS）由于其独特的 X 射线信号，可鉴定各种元素，非常适合区分单个原子。研究人员利用这一信息可以原子级对材料进行表征和修改，对纳米材料和颗粒的行为获得无以伦比的见解。
正如该页面上水塔酸盐实例中所示，个别原子位置可通过其清晰的化学信号来区分。单个原子色谱柱不仅能够看到，而且由于其高对比度而与相邻区域不同；即使混合色谱柱和纯色谱柱也能有所区分。此外，EDS 信号甚至还使探测轻元素成为可能，因为众所周知在这些分辨率下这些元素难以观察。
只有通过 Thermo Scientific 独特的 ChemiSTEM 技术以及 Dual-X Super-X 检测系统的多固态盘设计，才能够获得如此稳健、高质量的结果。凭借改进的信号生成和检测能力，原子级空间分辨率所需的低探针电流不再对 X 射线光谱采集和分析构成障碍。
颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合，以快速表征粉末和微粒。
颗粒的形态、结构、形状和大小在其化学和物理特性中起着重要作用。这对于纳米粒子尤其如此，它与散装的相应材料（在宏观层面）具有根本不同的物理特性。例如，半导体纳米粒子的尺寸可以改变其发射的光的频率和波长，使其尺寸的精确控制对于实用光学应用至关重要。了解这些微粒的结构和化学性质、以及如何进行改性，都需要通过电子显微镜等工具才能实现精确分析。
另一个例子是增材制造，此流程利用金属进料粉末生产出设计精细的组件。进料粉末颗粒的质量和一致性直接影响生产部件的质量。由于颗粒形态和化学特性的变化可能导致不均匀的分层、缺陷增加以及灾难性的故障，因此化学和物理特性非常必要。另一方面，这些粉末的精确可视化研究有利于创新和改进设计、开发和质量控制。